一、概述

很多用户在使用 IX71 倒置荧光显微镜时会问：暗场能不能用？答案是“可以，但要看你要做的是哪一种暗场，以及现有配置是否具备相应的暗场附件”。暗场的核心原理是让直射光不进入物镜，只有被样品散射或衍射的光进入成像系统，因此背景呈暗、散射体呈亮。暗场常用于观察透明样品的边缘、颗粒、细微划痕、微生物与悬浮颗粒等。IX71 作为倒置平台，理论上可以实现透射暗场（Transmitted Darkfield）或反射暗场（Reflected Darkfield）中的某些形式，但需要合适的聚光镜/暗场环、物镜匹配，以及对样品容器的适配。若仅靠普通明场聚光镜和标准物镜，暗场效果往往不理想或无法形成典型暗场背景。

二、主要特点（暗场在倒置平台上的表现）

1）能用但“依赖配件”
暗场不是一个软件按钮就能实现的模式，它需要暗场光学条件：暗场聚光镜或暗场环形光阑、合适的数值孔径匹配，以及相对干净的光路与样品底面。

2）更适合“散射/颗粒类”目标
暗场对微粒、细丝、细菌、微泡、污染物、微裂纹等散射信号敏感；对厚样、强吸收样或本身散射弱的结构，可能效果有限。

3）倒置结构对样品容器更友好，但也更挑底面质量
培养皿、多孔板等容器便于放置；但底部材质、厚度一致性和洁净度会显著影响暗场背景纯净度，容易出现灰雾或杂散光。

4）可与荧光互补，而非替代
暗场强调散射轮廓，荧光强调标记定位。两者结合可提升目标发现效率：先暗场快速找颗粒或结构位置，再切荧光确认标记或成分。

三、能否实现暗场：判断与配置思路

1）透射暗场（最常被询问的一类）

透射暗场需要在透射照明端形成“中空锥形光”，使直射光绕开物镜 NA。对 IX71 来说，关键在于是否有：

• 支持暗场的聚光镜或可插入的暗场环形光阑组件；

• 与之匹配的物镜 NA（暗场通常要求聚光侧 NA 大于物镜 NA）；

• 合适的样品厚度与清洁底面。
  结论：如果你有暗场环/暗场聚光镜并且物镜匹配，透射暗场可以实现；若没有暗场光阑或聚光镜组件，仅用普通明场聚光镜通常难以获得标准暗场效果。

2）反射暗场/侧向暗场（适合表面与颗粒观察）

反射暗场更常用于表面微结构、划痕、薄膜颗粒等，照明与成像在同侧。倒置平台在某些场景可用侧向环形光源、斜照明等方式获得“暗背景+亮散射”的类似效果。
结论：对材料表面、底部沉积颗粒等，采用斜照明或环形侧光往往比硬件透射暗场更容易实现，也更实用。

3）用相差/ DIC 替代暗场的情况

如果你的目标是看透明细胞轮廓、细胞器边界或弱对比结构，而不是颗粒散射，许多情况下相差或 DIC 的稳定性与可操作性更好。
结论：细胞培养常规观察，优先相差；颗粒/污染/微泡或极弱散射目标，暗场更有优势。

四、应用实例（暗场在 IX71 上的典型用途）

实例1：培养液污染物与微颗粒排查
细胞培养过程中怀疑有微粒污染、微泡或沉积物。暗场可让这些散射体在暗背景下变得非常醒目，便于快速定位来源（移液枪头碎屑、塑料屑、结晶盐粒等）。

实例2：微生物与悬浮体观察
对某些细菌、微藻或微小悬浮体，暗场能突出边缘散射，提高发现概率；再配合相差或荧光标记进行确认。

实例3：微流控芯片中的颗粒流动
在微流控通道中观察微珠、气泡、沉积或堵塞点。暗场对颗粒散射敏感，适合做“是否存在、在哪里、怎么移动”的快速判读。

实例4：材料底面颗粒与划痕检测
在培养皿底或玻璃底表面出现划痕、颗粒附着时，暗场或斜照明更容易把缺陷凸显出来，为后续清洁、工艺调整或质量判定提供依据。

五、使用要点与常见问题

• 背景发灰：多由容器底面不洁、杂散光或 NA 不匹配引起；清洁底面、检查光阑位置与聚光镜对中很关键。

• “怎么调都不黑”：通常是缺少暗场环/暗场聚光镜，或物镜 NA 过大导致直射光仍进入物镜。

• 亮点太多像噪声：暗场对灰尘极敏感，物镜前端、滤片、容器底部的微尘都会被放大呈现。

• 与荧光切换：暗场靠透射或反射照明，荧光靠激发/发射滤光组件；切换时注意光路选择与相机参数固定，避免误判为信号变化。

六、总结

IX71 倒置荧光显微镜可以使用暗场，但效果取决于是否具备暗场所需的光学条件与附件，并且更适合颗粒散射、污染排查、微流控颗粒运动与表面缺陷等场景。如果你主要观察活细胞形态，相差往往更高效；如果你的目标是“找微粒、找微泡、看细微散射结构”，暗场（或斜照明类的暗场效果）会非常有价值。
如果你告诉我你现在的样品类型（细胞/颗粒/微流控/材料表面）以及你手头有没有暗场环或暗场聚光镜附件，我也可以把“如何配置与调节”的步骤写成更具体的操作清单。