随着材料科学、地质学、高分子化学及纤维学的发展,研究者们对显微成像设备提出了越来越高的要求。特别是在研究晶体、矿物、聚合物等具有各向异性与双折射特性的样品时,偏光显微镜成为不可或缺的实验工具。奥林巴斯(Olympus)长期以来在光学显微镜领域处于全球领先地位,其 BX53-P 倒置偏光显微镜 正是为满足这一领域的需求而推出的高端研究级产品。
该机型继承了奥林巴斯 BX 系列的优秀传统,融合了 UIS2 无限远光学系统、模块化设计理念和高性能偏光附件,既保证了成像的清晰度与准确性,也为实验室用户提供了灵活的扩展和舒适的人机交互体验。BX53-P 不仅在学术研究中广受青睐,也广泛应用于材料检测、教育培训和质量控制等多个领域。
BX53-P 采用奥林巴斯独有的 UIS2 无限远光学系统。该系统具有以下优势:
色彩还原度高:在偏光条件下能够真实再现样品的天然色彩。
清晰度与对比度出色:即使在高放大倍率下,图像仍保持锐利细致。
扩展性强:无限远光学设计可兼容多种附件与对比技术,确保未来升级与功能拓展的可能性。
BX53-P 配备专门的 无应力物镜(UPLFLN-P 系列),其镜片在制造过程中经过特殊处理,最大程度地减少内部应力,从而避免因应力而产生的伪影与误差。这对于偏光显微观察尤为关键,可显著提升光学测量的精确度。
在偏光显微镜中,偏振器与检偏器的质量直接决定了成像效果。BX53-P 使用高灭光比偏振元件,能实现几乎完全的消光效果,提供极高的对比度,从而更清晰地呈现双折射材料的光学性质。
BX53-P 可搭载多种补偿器,例如全波片(λ)、1/4 波片(λ/4)、石膏板、云母板、Senarmont 补偿器和 Brace-Koehler 补偿器。它们可以覆盖从 0 到 20λ 的光程差范围,并可直接读数,方便研究人员进行定量测量。
借助这些补偿器,研究人员能够精确测量晶体的光学性质,例如折射率差、光程差、光轴方向等。同时,该系统还可用于高分子材料和纤维结构的取向分析,帮助科研人员揭示材料的微观结构与宏观性能之间的关系。
对于具有双折射效应的样品,BX53-P 能够在交叉偏光下展现出鲜明的干涉色彩,这不仅便于定性分析,也为教学和展示提供了极佳的视觉效果。
BX53-P 采用模块化设计,用户可根据需要灵活配置。除偏光观察外,还可扩展相差、明场、荧光、DIC(微分干涉)等观察方式,使其在科研与教学中的适用范围更广。
该显微镜可与 BX3 系列的照明系统、数码摄像头接口及图像分析软件无缝结合,轻松实现从样品观察到数据采集、分析与存档的完整流程。
BX53 显微镜主体
高亮度 LED 照明系统
U-AN360P 检偏器滑块
三点调心旋转载物台
补偿器适配器与多种波片
无应力偏光物镜(4×、10×、20×、40×)
三目镜筒,支持显微摄影与实时图像输出
BX53-P 使用高亮度 True Color LED 光源,色温稳定、接近自然光,能准确还原样品色彩。其光源寿命远超传统卤素灯,同时维护简便,适合教学与科研的高频使用。
显微镜配备三点调心的旋转载物台,刻度清晰,可锁定旋转角度,便于样品的精确定位。偏振器和检偏器均可精细旋转和刻度化操作,确保定量实验的高重复性。
BX53-P 的操作界面符合人体工程学原理,控制旋钮布局合理,适合长时间观察。光强调节、对焦旋钮等设计均考虑到单手操作的便利性,大大降低了研究人员的操作负担。
BX53-P 广泛应用于矿物薄片观察与晶体结构分析。研究者可以利用偏光成像分析矿物的光性特征,从而进行岩石分类和成分研究。
在聚合物与纤维的研究中,BX53-P 可用于观察分子链取向、应力分布及结晶行为,为材料的性能优化提供理论支持。
对于复合材料、陶瓷、金属材料等,偏光显微镜能够揭示其内部结构特征,帮助进行缺陷检测、质量评估与新材料研发。
由于其直观的成像效果和模块化扩展能力,BX53-P 也非常适合于高等院校和科研机构的教学使用,既能展示理论知识,也能开展实验操作训练。
光学性能卓越:UIS2 光学系统与无应力物镜保证了成像质量。
偏光功能完备:多种补偿器与偏振附件满足不同实验需求。
扩展性强:兼容多种对比方法,模块化配置灵活。
照明先进:高亮度 LED 光源寿命长、色彩真实。
操作人性化:人体工学设计提升长期使用的舒适性。
应用广泛:从地质、材料到高分子研究,覆盖科研与教学全领域。
奥林巴斯 BX53-P 倒置偏光显微镜是一款集 高精度光学性能、完备的偏光功能、模块化设计与优异人机工程学 于一体的研究级显微镜。它不仅为科研人员提供了强有力的工具,也为实验教学、材料检测和工业应用带来了高效可靠的解决方案。
在未来的科学探索中,随着对新材料和复杂结构研究需求的不断增长,BX53-P 必将继续发挥其在偏光显微学领域的核心作用,成为推动材料科学与工程技术进步的重要助力。
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