(Bruker)荧光光谱仪是一款先进的分析工具,利用X射线荧光(XRF)技术,对材料的化学元素组成进行非破坏性检测
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产品分类0571-86288209
(Bruker)荧光光谱仪是一款先进的分析工具,利用X射线荧光(XRF)技术,对材料的化学元素组成进行非破坏性检测
查看详情布鲁克(Bruker)荧光光谱仪:激发样品中原子的荧光辐射。布鲁克的荧光光谱仪利用高能X射线与样品相互作用,引发内层电子跃迁,并释放特定波长的二次荧光
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查看详情BrukerX射线荧光光谱仪以其先进的技术、广泛的应用场景稳定性,成为实验室、工业生产和现场分析的理想选择。
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查看详情梅特勒电子天平十万分之一是一种超高精度的分析天平,称量精度可达0.01毫克(0.00001克),即每克重量的十万分之一变化都能被精准检测
查看详情梅特勒电子天平千分之一以其高精度、快速响应和稳定性能,成为实验室、工业和商业领域中使用的精密称重设备之一。
查看详情什么是梅特勒电子天平万分之一:是指一种称量精度达到0.1毫克(0.0001克)的高精度电子天平,能够检测和显示每克重量的万分之一变化
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