日本理学x射线荧光光谱仪

日本理学 X 射线荧光光谱仪：精准分析的

日本理学（Rigaku）是的分析仪器制造商，其 X 射线荧光光谱仪（XRF）以高灵敏度、多功能性性能在全球科学界和工业领域享有盛誉。这些仪器被广泛应用于材料科学、冶金、环境监测、地质勘探等多个领域，为用户提供快速、非破坏性、多元素同步检测的高效解决方案。

产品亮点

1. 高灵敏度与宽广的检测范围

• 检测元素范围覆盖从氧（O）到铀（U），无论是轻元素还是重元素都能实现精准分析。

• 采用薄窗光管技术，显著提升轻元素检测灵敏度，满足复杂样品的多样化需求。

2. 非破坏性检测

• 无需复杂的样品前处理，不会损坏样品的物理或化学结构。

• 适用于高价值或稀有样品的重复检测。

3. 多元素同步分析

• 一次扫描即可完成多种元素的定性和定量分析，显著提升工作效率。

• 优化的软件和自动化功能，让用户能够轻松完成批量样品检测。

4. 广泛的样品适配性

• 支持固体、液体、粉末、薄膜等多种样品形式，且样品处理过程简单。

• 专为大尺寸或重型样品设计的型号可接受最大直径达 400 毫米、重量达 30 千克的样品。

5. 高可靠性与低维护成本

• 上照射式光学系统设计，减少样品室污染，提升设备的使用寿命。

• 采用高强度材料与自动化维护设计，减少维护时间和成本。

主要产品及功能

1. ZSX Primus 波长色散 X 射线荧光光谱仪

• 结合高精度薄窗光管和高分辨率分光晶体，提供轻元素分析性能。

• 映射功能支持样品均匀性和夹杂物的检测，特别适合复杂材料分析。

2. ZSX Primus IV 波长色散 XRF

• 上照射式设计，减少污染并提升分析稳定性。

• 高精度样品定位功能，适用于高要求的元素分析，如合金成分检测。

3. ZSX Primus 400 波长色散 XRF

• 专为大尺寸样品而设计，可处理溅射靶材、磁盘等大型或重型样品。

• 灵活适配工业中多样化的检测需求。

4. Supermini 200 台式波长色散 XRF

• 世界大功率台式波长色散 XRF 光谱仪。

• 小型化设计适用于实验室或狭小空间，同时保持高分辨率和低检测限。

适用领域

1. 工业质量控制

• 精准分析矿物、合金、水泥等材料中的主要成分与微量元素。

• 支持生产线实时监控，优化工业流程。

2. 材料科学研究

• 高灵敏度检测材料中的杂质和添加剂。

• 微区分析功能助力新材料研发和故障检测。

3. 环境监测

• 检测土壤、水样中的重金属和污染物，为环境保护提供技术支持。

4. 地质与矿物

• 对矿石和岩石样品进行元素分析，支持矿产勘探和资源开发。

仪器优势

1. 高性能

• 先进的光路和探测技术结合优化的软件算法，确保高效精准的检测结果。

2. 智能化操作

• 用户友好的操作界面和自动化样品处理系统，显著降低操作复杂性。

3. 耐用性

• 创新的防污染设计和耐用材料，使设备在高频使用下依然保持稳定性能。

总结

日本理学 X 射线荧光光谱仪以性能、强大的功能和灵活的样品适配性，满足了从科研到工业生产的多样化需求。无论是精准检测轻元素、批量处理样品，还是分析复杂材料，这些仪器都能提供可靠的解决方案，是现代实验室和工业应用的重要工具。