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Data downloadX 射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称 XRF)是一种基于 X 射线荧光原理的元素分析仪器,广泛用于材料科学、工业生产、环境监测和科研领域。它能够快速、非破坏性地检测材料中的化学元素组成及其浓度,是现代分析科学中的重要工具。
X 射线荧光光谱仪的核心原理是X 射线荧光效应。当高能 X 射线照射样品时,会激发样品中原子的内层电子脱离轨道,形成电子空位。外层电子填补这一空位时会释放特定波长的 X 射线(即荧光)。这些特征荧光信号的波长和强度可以用来识别样品中的元素种类和含量。
主要步骤包括:
激发:高能 X 射线通过样品,激发原子产生荧光。
检测:检测器捕捉样品发射的荧光 X 射线信号。
分析:通过光谱分析波长和强度,得出样品中元素的种类和浓度。
波长色散 XRF(WDXRF)
使用分光晶体分离荧光光谱,根据波长分析元素。
优点:精度高、分辨率高,适合轻元素和复杂样品的分析。
典型设备:布鲁克 S8 TIGER。
能量色散 XRF(EDXRF)
使用探测器直接测量荧光能量,用于快速多元素分析。
优点:操作简单、速度快,适合高通量检测。
典型设备:便携式或台式 XRF 仪器。
非破坏性分析
样品无需破坏性制备,可直接用于分析,特别适合贵重样品的检测。
多元素同步检测
一次扫描即可检测出样品中多种元素,效率高。
广泛的应用范围
可检测从铍(Be)到镅(Am)的几乎所有元素,适用于多种样品形态(固体、液体、粉末)。
高灵敏度与精确度
检出限可达 ppm 级,能够精准分析微量元素。
X 射线光源
通常为 X 射线管,发射高能 X 射线以激发样品。
样品室
用于放置样品,支持真空或氦气环境以优化分析条件。
分光系统
WDXRF 使用分光晶体分离光谱;EDXRF 则直接测量能量。
检测器
捕捉荧光 X 射线信号,常用探测器包括闪烁计数器、正比计数器和硅漂移探测器。
分析软件
对检测到的光谱数据进行处理,生成定性和定量分析结果。
工业生产
矿物与地质:分析矿石中的主要和微量元素。
金属与合金:检测金属成分及涂层厚度。
水泥与玻璃:控制氧化物含量,优化产品质量。
科研与材料研究
聚合物:检测添加剂及元素分布。
古生物学与地球科学:研究化石、岩石等样品中的微区元素分布。
环保与能源
土壤与水质监测:检测重金属污染物。
石油化工:分析油品和润滑剂中的杂质。
消费品安全
RoHS检测:检测电子产品中的有害元素(如铅、镉)。
快速高效
分析速度快,可在几分钟内完成多元素检测。
高稳定性
长时间运行稳定,适合生产线质量控制。
样品适应性强
可直接分析固体、粉末、薄膜和液体,无需复杂的化学处理。
样品准备
样品表面应清洁、平整,以避免影响检测信号。
环境控制
避免潮湿和粉尘环境,保持光管和探测器的良好状态。
辐射安全
X 射线具有辐射性,操作时需确保设备防护功能正常,避免人体暴露。
X 射线荧光光谱仪是一种功能强大、应用广泛的分析工具。它凭借非破坏性、多元素同步分析、高灵敏度和广泛适配性,在工业生产和科研领域中发挥着不可替代的作用。无论是精准检测微量元素,还是快速完成批量样品分析,XRF 都为现代材料科学和质量控制提供了可靠保障。