Bruker布鲁克X射线荧光光谱仪说明书

Bruker X射线荧光光谱仪：精准分析，开启材料科学新视野

布鲁克（Bruker）X射线荧光光谱仪结合高精度技术与灵敏度，为材料科学、工业质量控制、科研实验等领域提供了强大的元素分析工具。这款设备集成多项先进功能，以高效、可靠的性能满足多样化应用需求，是现代实验室和工业应用的重要设备之一。

设备亮点

1. 高灵敏度与精准度

• 采用 HighSense 光管与分光晶体 技术，覆盖从铍（Be）到镅（Am）的全元素分析范围。

• 检出限低至0.2 ppm，可应对极微量样品分析，确保数据精准可靠。

2. 灵活的样品适配性

• 支持固体、液体、粉末和小颗粒样品的直接分析，无需复杂的样品制备。

• 多种面罩与准直器选择，光斑尺寸最小达300 µm，适用于微区分析和面扫描。

3. 快速高效的操作体验

• 自动化样品处理系统，结合 EasyLoad 设计，减少操作时间，提高样品周转率。

• 用户界面采用直观的 TouchControl 系统，操作简单，即使非专业人员也能轻松使用。

4. 低维护与长寿命设计

• SampleCare 技术 防止粉尘和样品污染设备内部组件，延长设备使用寿命。

• 氦气节能模式减少运行成本，保持长期高效运作。

关键技术特点

1. HighSense 技术提升分析性能

• 分光晶体优化：18种分光晶体适配不同元素，提高检测强度和精密度。

• 动态计数技术：DynaMatch 技术实现计数率高达13 Mcps，为高通量分析提供保障。

• 光管增强：28 µm 铍窗设计，轻元素检测强度提升35%。

2. XRF2 微区分析功能

• 面扫描工具结合高灵敏度光路，支持轻重元素的高分辨率分析。

• 小光斑（300 µm）和高步长精度（100 µm）让微区分布研究更加精确。

3. 高效样品进样与分析

• 自动识别样品类型（固体或液体），避免操作失误。

• 进样托盘配置灵活，支持单样品或批量样品测量，适合高通量需求。

4. 可靠的数据管理能力

• 数据自动记录与存储，确保分析结果的可追溯性。

• 灵活的报告输出功能，支持多种格式的数据导出与打印。

适用领域与优势

1. 工业质量控制

• 支持水泥、矿物、金属合金等材料的主要成分和微量元素检测。

• 满足ISO、ASTM等多种国际标准要求。

2. 科研与学术研究

• 用于材料科学、地质学、古生物学的深度分析。

• 微区扫描功能特别适合缺陷分析和元素分布研究。

3. 环保与能源行业

• 聚合物中重金属与微量元素检测。

• 在石油化工领域，提供润滑油、水和聚合物的精确分析。

技术规格

• 检测范围：铍（Be）至镅（Am）

• 光斑尺寸：最小300 µm

• 计数率：高达13 Mcps

• 操作界面：触控式TouchControl

• 样品处理：支持108位样品托盘与自动化进样

设备维护与操作建议

1. 环境要求

• 放置在无尘环境中，确保设备运行稳定。

• 避免湿度过高，以保护光管和分光晶体。

2. 定期维护

• 清洁粉尘收集器和真空封挡，避免污染光谱室。

• 检查氦气模式与耗材状态，确保设备长期高效运行。

3. 安全操作

• 样品进样时遵循操作指引，避免液体泄漏或松散粉末污染设备。

• 数据存储与分析权限管理需规范操作，保护实验数据安全。

总结

布鲁克 X射线荧光光谱仪以其优异的检测性能、灵活的样品适配性和低维护设计，成为工业与科学分析领域的可靠选择。设备通过创新技术与高效操作结合，不仅提升了实验效率，还显著优化了分析结果的精度和可靠性。它是一款能够应对未来需求、支持广泛应用的多功能仪器。